產(chǎn)品特色
電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　
可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式
Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修
大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)
應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題。
二手TR-5001E 值得選擇；ICT58

◆ 視窗版作業(yè)環(huán)境、人性化界面設(shè)計(jì)、操作簡(jiǎn)易

◆ 電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC

◆ 保護(hù)二極體之測(cè)試程式

◆ 電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，自動(dòng)判斷信號(hào)源及信號(hào)流入方向

◆ 可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式

◆ 完整測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料及報(bào)表產(chǎn)生，且自動(dòng)儲(chǔ)存，不因斷電而遺失數(shù)據(jù)

◆ 系統(tǒng)具自我診斷功能及遠(yuǎn)端遙控功能

◆ Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修

◆ 高科技半導(dǎo)體CMOS Switching設(shè)計(jì)，無(wú)壽命限制，待測(cè)物安全性高

◆ 操作界面可以壓床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式

◆ 大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)
尺寸重量

OFF LINE TYPE: 960mm(寬)×850mm(深)×1530mm(高),約200Kg

IN LINE TYPE: 1000mm(寬)×720mm(深)×17200mm(高),約350Kg
二手德律ICT在線測(cè)試儀 ICT58 銷(xiāo)售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷(xiāo)售 二手儀器買(mǎi)賣(mài)
二手ICT,ICT在線測(cè)試儀，線路板檢測(cè)儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT
TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001E , SRC6001 , JET300NT,

在線測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)表

項(xiàng) 目

詳 細(xì) 參 數(shù)

測(cè)試點(diǎn)數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開(kāi)關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)

大型主機(jī)(8u):可以每片關(guān)開(kāi)板256點(diǎn)擴(kuò)充至3584點(diǎn)

測(cè)試步驟

步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充

測(cè)試時(shí)間

開(kāi)路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1Sec(Typical DUT)

元件測(cè)試:每一元件約0.6mSec至30mSec(Typical DUT)

測(cè)試范圍

電阻:0.1Ω至40MΩ 電晶體/二極體: 0.1V至9.99V

電容:1.0PF至100mF Zener Diode: 標(biāo)準(zhǔn),0.1V至9.99V,選配HV,0.1V至48V

電感:1.0UH至60H

隔離點(diǎn)電路

隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇,每測(cè)試步驟5點(diǎn)

測(cè)試值上下限設(shè)定范圍

上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%

可測(cè)電路板尺寸

標(biāo)準(zhǔn)配備: 420mm(寬)×300mm(深)×100mm(高)

選購(gòu)配備: 500mm(寬)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求訂做.

主控制電腦

Pentium等級(jí)以上PC

監(jiān)視器

15〃夜晶顯示器

記憶設(shè)備

3.5 1.44MB,磁碟機(jī)一臺(tái),80GB以上硬式磁碟機(jī)一臺(tái)

列印機(jī)

標(biāo)準(zhǔn)配備:微型印表機(jī)

*其它選購(gòu)配備

Windows作業(yè)系統(tǒng)環(huán)境,多國(guó)語(yǔ)言使用界面(英文、中文、日文）

Trace Level 圖形顯示檢修軟體。

網(wǎng)絡(luò)連線及遠(yuǎn)端遙控維修，Bar Code Reader(Printer)Package,

Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator

光電保護(hù)及多連板自動(dòng)蓋章功能

實(shí)裝板程式燒錄功能

*選項(xiàng)測(cè)試功能

HP TestJet功能：

可測(cè)IC數(shù)量：標(biāo)準(zhǔn)配備，64頻道/MUX CARD

擴(kuò)充，960頻道 測(cè)試時(shí)間：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up

電源

AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W

尺寸重量

OFF LINE TYPE: 960mm(寬)×850mm(深)×1530mm(高),約200Kg

IN LINE TYPE: 1000mm(寬)×720mm(深)×17200mm(高),約350Kg

光電保護(hù)及多連板自動(dòng)蓋章功能

實(shí)裝板程式燒錄功能

*選項(xiàng)測(cè)試功能 Agilent TestJet功能：

可測(cè)IC數(shù)量：標(biāo)準(zhǔn)配備，64頻道/MUX CARD

擴(kuò)充，960頻道測(cè)試時(shí)間：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up

氣壓零件 FESTO DNG-80-160（200）-PPV-A氣壓缸，下壓力：290Kg/6Bar

FESTO DNG-100-160（200）-PPV-A氣壓缸，下壓力：450Kg/6Bar

FESTO DNG-125-160（200）-PPV-A氣壓缸，下壓力：720Kg/6Bar

工作氣壓 4-6Kg/C㎡耗氣量：4 Liter/cycle

電源 AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W

尺寸重量 OFF LINE TYPE: 960mm(寬)×850mm(深)×1530mm(高),約200Kg

IN LINE TYPE: 1000mm(寬)×720mm(深)×17200mm(高),約350Kg

TR518FR是德律科技為滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

TR5001E測(cè)試儀

二手TR5001E搭配兩段式壓床將可降低治具成本，此ICT為PCBAs測(cè)試之可擴(kuò)充平臺(tái)。TR5001E可以依客戶的測(cè)試需求，提供經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案，并且可完全滿足大多數(shù)客戶之測(cè)試要求。TR5001E整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測(cè)試功能于同一平臺(tái),可以精簡(jiǎn)人力，縮短測(cè)試時(shí)間并提高產(chǎn)能。

二手ICT TR5001E特點(diǎn)
. 模組化升級(jí)選項(xiàng)，可將MDA設(shè)備升級(jí)至ICT與功能測(cè)試系統(tǒng)
. 高測(cè)試覆蓋率之解決方案
. 少量測(cè)點(diǎn)之解決方案與PXI模組功能測(cè)試擴(kuò)充
. 人性化接口搭配快速又簡(jiǎn)單的程序發(fā)展