【納米壓痕測試】
服務背景：隨著MEMS器件和納米涂層廣泛應用，傳統(tǒng)力學測試無法滿足微區(qū)性能評估需求。
檢測重要性：直接獲取薄膜/涂層的硬度、彈性模量，預防芯片封裝分層失效。
檢測周期：3-5個工作日（含制樣）。

廣電計量能力：
1、配備的納米壓痕儀，載荷分辨率1nN；
2、完成某GPU散熱涂層測試（硬度8.2±0.3GPa，模量120±5GPa）；

廣電計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測機構(gòu)，技術服務保障網(wǎng)絡覆蓋全國，化學分析實驗室分布在廣州、無錫、上海、天津、重慶等五地，方便客戶就近檢測服務。

【BET測試】
背景：1938年Brunauer-Emmett-Teller提出多層吸附理論（BET方程），開啟比表面定量時代。
重要性：催化劑的活性、電池電極的離子傳輸效率直接取決于孔隙結(jié)構(gòu)參數(shù)。
產(chǎn)品類型：MOFs材料、鋰電負極、分子篩。
檢測標準：ISO 9277（靜態(tài)容量法）、ASTM D4567（微孔材料）。

廣電計量能力：
1、美國康塔Autosorb-iQ三站分析儀；
2、介孔材料孔徑分布重復性RSD＜1.5%；
3、完成某燃料電池催化劑比表面測試（850±10 m2/g）。

【XRD檢測】
背景：1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體X射線衍射現(xiàn)象，1953年沃森-克里克據(jù)此解析DNA結(jié)構(gòu)。
重要性：材料相組成決定力學性能與化學穩(wěn)定性，是質(zhì)量控制必檢項目。
產(chǎn)品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測標準：JCPDS PDF卡片庫、GB/T 23413（納米材料）。