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全新設計的XTEST分析軟件 軟件內核包括基本參數(shù)法（FP），經驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質效應，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。

礦石光譜分析儀市場前景廣闊。礦石是重要的資源，對于許多行業(yè)和國家的經濟發(fā)展至關重要。光譜分析儀是一種的儀器，可以用于礦石的化學成分和結構分析，以及礦石質量的評估。