世通儀器檢測服務(wù)有限公司，全國有多個實(shí)驗(yàn)室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來電咨詢-陳經(jīng)理
網(wǎng)絡(luò)分析儀一種能在寬頻帶內(nèi)進(jìn)行掃描測量以確定網(wǎng)絡(luò)參量的綜合性微波測量儀器。全稱是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。網(wǎng)絡(luò)分析儀是測量網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的一種新型儀器，可直接測量有源或無源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡(luò)的復(fù)數(shù)散射參數(shù)，并以掃頻方式給出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性。自動網(wǎng)絡(luò)分析儀能對測量結(jié)果逐點(diǎn)進(jìn)行誤差修正，并換算出其他幾十種網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，如輸入反射系數(shù)、輸出反射系數(shù)、電壓駐波比、阻抗（或?qū)Ъ{）、衰減（或增益）、相移和群延時等傳輸參數(shù)以及隔離度和定向度等。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是微波毫米波測試儀器領(lǐng)域中為重要、應(yīng)用為廣泛的一種智能化測試儀器，在業(yè)界享有“微波/毫米波測試儀器”的美譽(yù)，主要用于被測網(wǎng)絡(luò)散射參量雙向S參數(shù)的幅頻、相頻及群時延等特性信息的測量，廣泛應(yīng)用于以相控陣?yán)走_(dá)為代表的新一代電子裝備研制、生產(chǎn)、維修和計量等領(lǐng)域，還可以應(yīng)用于制導(dǎo)、隱身及反隱身、航空航天、衛(wèi)星通信、雷達(dá)偵測和監(jiān)視、教學(xué)實(shí)驗(yàn)以及天線與RCS測試、元器件測試、材料測試等諸多領(lǐng)域矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，它本身自帶了一個信號發(fā)生器，可以對一個頻段進(jìn)行頻率掃描. 如果是單端口測量的話，將激勵信號加在端口上，通過測量反射回來信號的幅度和相位，就可以判斷出阻抗或者反射情況. 而對于雙端口測量，則還可以測量傳輸參數(shù). 由于受分布參數(shù)等影響明顯，所以網(wǎng)絡(luò)分析儀使用之前進(jìn)行校準(zhǔn)。
在微波電路的設(shè)計和計算中，需要對所用元、器件特性的全部網(wǎng)絡(luò)參數(shù)進(jìn)行全面定值。而微波元、器件中，包括微波晶體管，大多采用S參數(shù)（散射參數(shù)）來表述它們的特性。一般二端口網(wǎng)絡(luò)需要有四個散射參數(shù)（S11、S22、S12和S21），才能對其全面定值。因此往往采用測量的方法來確定網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)。
圖2 網(wǎng)絡(luò)分析儀框圖
圖2 網(wǎng)絡(luò)分析儀框圖
20世紀(jì)60年代中期，出現(xiàn)能在寬頻帶范圍內(nèi)掃頻測量并能顯示全部網(wǎng)絡(luò)S參數(shù)的模值和幅角的多功能儀器，這就是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。因此網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本部分實(shí)際上就是一臺S參數(shù)測量儀。方框圖如圖2所示。
由于測定了網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)后，網(wǎng)絡(luò)的其它各種特性參量都可以從S參數(shù)中導(dǎo)出，因此，微波網(wǎng)絡(luò)分析儀具有多種功能。
網(wǎng)絡(luò)分析儀是在四端口微波反射計（見駐波與反射測量）的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。在60年代中期實(shí)現(xiàn)自動化，利用計算機(jī)按一定誤差模型在每一頻率點(diǎn)上修正由定向耦合器的定向性不完善、失配和竄漏等而引起的誤差，從而使測量度大為提高，可達(dá)到計量室中精密的測量線技術(shù)的測量度，而測量速度提高數(shù)十倍 [2] 。
原理編輯 語音
一個任意多端口網(wǎng)絡(luò)的各端口終端均匹配時，由第n個端口輸入的入射行波 an將散射到其余一切端口并 發(fā)射出去。若第m個端口的出射行波為bm，則n口與m口之間的散射參數(shù)Smn=bm/an。一個雙口網(wǎng)絡(luò)共有四個散射參數(shù) S11、S21、S12和S22。當(dāng)兩個終端均匹配時，S11和S22就分別是端口1和2的反射系數(shù)，S21是由1口至2口的傳輸系數(shù)，S12則是反方向的傳輸系數(shù)。當(dāng)某一端口m終端失配時，由終端反射回來的行波又重新進(jìn)入m口。這可以等效地看成是m口仍是匹配的，但有一個行波am入射到m口。這樣，在任意情況下都可以列出各口等效入射、出射行波與散射參數(shù)之間關(guān)系的聯(lián)立方程組。據(jù)此可以解出網(wǎng)絡(luò)的一切特性參數(shù)，如終端失配時的輸入端反射系數(shù)、電壓駐波比、輸入阻抗以及各種正向反向傳輸系數(shù)等。這就是網(wǎng)絡(luò)分析儀的基本的工作原理。單端口網(wǎng)絡(luò)可視為雙口網(wǎng)絡(luò)的特例，在其中除S11之外，恒有S21=S12=S22。對于多端口網(wǎng)絡(luò)，除了一個輸入和一個輸出端口之外，可在其余一切端口都接上匹配負(fù)載，從而等效為一個雙端口網(wǎng)絡(luò)。輪流選擇各對端口作為等效雙口網(wǎng)絡(luò)的輸入、輸出端，進(jìn)行一系列測量并列出相應(yīng)的方程，即可解得n端口網(wǎng)絡(luò)的全部n2個散射參數(shù)，從而求出n端口網(wǎng)絡(luò)的一切特性參數(shù)。 　圖3左為四端口網(wǎng)絡(luò)分析儀測量S11時測試單元的原理示意，箭頭表示各行波的路徑。信號源 u輸出信號經(jīng)開關(guān)S1和定向耦合器D2輸入到被測網(wǎng)絡(luò)的端口1，這就是入射波a1。端口1的反射波（即1口的出射波b1）經(jīng)定向耦合器 D2和開關(guān)傳到接收機(jī)的測量通道。信號源u的輸出同時經(jīng)定向耦合器D1傳到接收機(jī)的參考通道，這個信號是正比于a1的。于是雙通道幅度-相位接收機(jī)就測出b1/a1，即測出S11，包括其幅值和相位（或?qū)嵅亢吞摬浚?。測量時，網(wǎng)絡(luò)的端口2接上匹配負(fù)載R1，以滿足散射參數(shù)所規(guī)定的條件。系統(tǒng)中的另一個定向耦合器D3也終接匹配負(fù)載R2，以免產(chǎn)生不良影響。其余三個S 參數(shù)的測量原理與此類同。圖3右為測量不同Smn參數(shù)時各開關(guān)應(yīng)放置的位置。
圖3 網(wǎng)絡(luò)分析儀
圖3 網(wǎng)絡(luò)分析儀
在實(shí)際測量之前，先用三個阻抗已知的標(biāo)準(zhǔn)器（例如一個短路、一個開路和一個匹配負(fù)載）供儀器進(jìn)行一系列測量，稱為校準(zhǔn)測量。由實(shí)測結(jié)果與理想（無儀器誤差時）應(yīng)有的結(jié)果比對，可通過計算求出誤差模型中的各誤差因子并存入計算機(jī)中，以便對被測件的測量結(jié)果進(jìn)行誤差修正。在每一頻率點(diǎn)上都按此進(jìn)行校準(zhǔn)和修正。測量步驟和計算都十分復(fù)雜，非人工所能勝任。
上述網(wǎng)絡(luò)分析儀稱為四端口網(wǎng)絡(luò)分析儀，因?yàn)閮x器有四個端口，分別接到信號源、被測件、測量通道和測量的參考通道。它的缺點(diǎn)是接收機(jī)的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，誤差模型中并未包括接收機(jī)所產(chǎn)生的誤差。
參數(shù)編輯 語音
參數(shù)（散射參數(shù)）用于評估 DUT 反射信號和傳送信號的性能。 參數(shù)由兩個復(fù)數(shù)之比定義，它包含有關(guān)信號的幅度和相位的信息。 參數(shù)通常表示為：
輸出 輸入
輸出：輸出信號的 DUT 端口號。
輸入：輸入信號的 DUT 端口號。
例如，參數(shù) S21 是 DUT 上端口 2 的輸出信號與 DUT 上端口 1 的輸入信號之比，輸出信號和輸入信號都用復(fù)數(shù)表示。
當(dāng)啟動平衡 - 不平衡轉(zhuǎn)換功能時，可以選擇混合模 S 參數(shù)。
新發(fā)展編輯 語音
1973年又研制出六端口網(wǎng)絡(luò)分析儀。它利用一個由定向耦合器和混合接頭（魔 T）組成的六端口網(wǎng)絡(luò)作為測量單元，除二個端口分別接信號源和被測件之外，其余四個端口均接到幅值檢波器或功率計。通過檢出的四個幅值的適當(dāng)組合，可以求出被測網(wǎng)絡(luò)散射參數(shù)的模和相位。它不必使用復(fù)雜的雙通道接收機(jī)來取得相位信息，從而使測量系統(tǒng)的硬件大為簡化。此外，它有超過必需數(shù)目的冗余測量端口，可以利用冗余數(shù)據(jù)之間互相核對來提高測量結(jié)果的可信性。但它的計算工作比四端口網(wǎng)絡(luò)分析儀要復(fù)雜得多。采用雙六端口網(wǎng)絡(luò)分析儀來測量雙端口網(wǎng)絡(luò)，即用一個六端口網(wǎng)絡(luò)儀接在被測網(wǎng)絡(luò)的端口1，另一個接在端口2，可在測量過程中避免開關(guān)轉(zhuǎn)換或人工倒轉(zhuǎn)被測網(wǎng)絡(luò)的輸入端和輸出端，進(jìn)一步提高了測量的度

世通儀器檢測服務(wù)有限公司，全國有多個實(shí)驗(yàn)室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來電咨詢-陳經(jīng)理電子頻率計數(shù)器，功能是測量電子頻率。它根據(jù)頻率的不同范圍可把頻率計數(shù)器分為兩類：通用頻率計數(shù)器和微波頻率計數(shù)器（后者較為精密）。電子頻率計數(shù)器簡稱頻率計數(shù)器 [1] ,根據(jù)頻率的不同范圍可把頻率計數(shù)器分為兩類：通用頻率計數(shù)器和微波頻率計數(shù)器。前者的測量范圍一般在1GHz以下；而微波頻率計數(shù)器提供從DC到數(shù)十GHz的頻率測量，可覆蓋整個射頻、微波頻段。1、高頻測量是頻率計數(shù)器特的優(yōu)勢，普通示波器很難達(dá)到。頻率測量很簡單，將信號接入頻率計數(shù)器輸入端后再調(diào)節(jié)功能鍵至頻率測量，屏幕即顯示當(dāng)前頻率值。單一的頻率測量只需要一個輸入通道即可。
2、頻率計數(shù)器周期為波形振動一次所需要的時間，是頻率的倒數(shù)。大多數(shù)頻率計數(shù)器都會提供這項功能。信號周期的測量方法和頻率測量基本相似。
3、頻率計數(shù)器頻率比是對兩個頻率進(jìn)行比較，它可用來測試倍頻器或前置換算器（分頻器）的性能。在許多儀器系統(tǒng)中，兩個頻率的比值遠(yuǎn)比兩個立的頻率值有意義。例如在比率電容傳感器研發(fā)中，工程師關(guān)心的是兩個信號的頻率比。
4、頻率計數(shù)器統(tǒng)計功能：可以用來統(tǒng)計和顯示當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差，并能選擇統(tǒng)計次數(shù)。標(biāo)準(zhǔn)偏差是描述信號一致性好環(huán)的參數(shù)。標(biāo)準(zhǔn)偏差越大，表示信號幅值相差比較大，一致性差；而較小的標(biāo)準(zhǔn)偏差表示信號的幅值都很接近，信號波動小。
電子頻率計數(shù)器 - 應(yīng)用領(lǐng)域
1、頻率計數(shù)器功能是根據(jù)其應(yīng)用來設(shè)計的。頻率計數(shù)器常見的應(yīng)用是確定發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的特性。發(fā)射機(jī)的頻率進(jìn)行檢驗(yàn)和校準(zhǔn)，才能符合有關(guān)規(guī)章制度的要求。頻率計數(shù)器能對輸出頻率和一些關(guān)鍵的內(nèi)部頻率點(diǎn)(如本振)進(jìn)行測量，查明無線電發(fā)射時候是否滿足技術(shù)指標(biāo)。
2、頻率計數(shù)器的另一些應(yīng)用包括計算機(jī)領(lǐng)域，在此領(lǐng)域中的數(shù)據(jù)通信、微處理器和顯示器中都使用了時鐘。對性能要求不高的應(yīng)用領(lǐng)域包括對機(jī)電產(chǎn)品進(jìn)行測量。
3、頻率計數(shù)器的早期應(yīng)用之一是作為信號發(fā)生器的一部分。在信號發(fā)生器信號輸出之前，先通過頻率計數(shù)器部件測量該信號，測量到的結(jié)果被轉(zhuǎn)換為模擬信號用于反饋控制信號發(fā)生器的頻率，直到達(dá)到所需要的數(shù)值，從而能得到穩(wěn)定的信號輸出。很多信號發(fā)生器中都集成了頻率計數(shù)器的簡單功能。例如OI1842信號發(fā)生器也集成了測量范圍為0.1Hz～50MHz的頻率計功能。

世通儀器檢測服務(wù)有限公司，全國有多個實(shí)驗(yàn)室（廣東，江蘇，陜西，河南，重慶，四川，福建等等）均可上門檢測，證書帶CANS資質(zhì)，歡迎來電咨詢-陳經(jīng)理X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出特征X光；不同的元素會放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的信號。這一現(xiàn)象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化學(xué)研究、法醫(yī)學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管（EURoHS）和考古學(xué)等領(lǐng)域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補(bǔ)，減少工廠附設(shè)的品管實(shí)驗(yàn)室之分析人力投入。 當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道，以填補(bǔ)遺留下來的洞。在“回補(bǔ)”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。 [1]
X射線熒光光譜法在化學(xué)分析編輯 語音
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。 [2]