一、核心測(cè)試項(xiàng)目耗時(shí)

1. 鹽霧試驗(yàn)（NEMA 4X 防腐蝕）

   • 標(biāo)準(zhǔn)要求：500 小時(shí)中性鹽霧（ASTM B117）。
   • 耗時(shí)：約 21 天（連續(xù)運(yùn)行）。
   • 目的：驗(yàn)證外殼及涂層的耐腐蝕性，Blokset確保無銹蝕或涂層脫落。

2. 濕熱循環(huán)試驗(yàn)（環(huán)境適應(yīng)性）

   • 標(biāo)準(zhǔn)要求：40℃/93% RH，56 天（如 GB/T 7251.2-2023）。
   • 耗時(shí)：約 2 個(gè)月（需完整周期）。
   • 目的：模擬高濕度環(huán)境，測(cè)試絕緣材料及密封性能。

3. IP66 防護(hù)測(cè)試

   • IP6X 防塵：Blokset滑石粉侵入試驗(yàn)（8 小時(shí)無滲透）。
   • IPX6 防水：高壓水槍持續(xù) 3 分鐘無泄漏。
   • 總耗時(shí)：1-2 天（單項(xiàng)目測(cè)試）。

4. 材料驗(yàn)證（如 EPDM 密封圈）

   • 紫外線老化：1000 小時(shí)氙燈照射（ASTM G155）。
   • 耗時(shí)：約 42 天（加速老化測(cè)試）。

二、測(cè)試周期綜合估算

三、影響測(cè)試時(shí)間的關(guān)鍵因素

1. 測(cè)試機(jī)構(gòu)排期：Blokset第三方實(shí)驗(yàn)室（如 UL、TüV）可能因業(yè)務(wù)量導(dǎo)致延遲。
2. 樣品整改：若測(cè)試未通過（如密封不嚴(yán)），需修復(fù)后重新測(cè)試，額外增加 1-2 周。
3. 標(biāo)準(zhǔn)差異：針對(duì)特定地區(qū)（如北美 NEMA 4X vs 歐盟 IP66），可能需補(bǔ)充測(cè)試。

四、建議與參考

• 施耐德原廠預(yù)認(rèn)證：部分測(cè)試（如鹽霧、IP66）可復(fù)用施耐德實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)Blokset，縮短周期約 60%。
• 快速通道：選擇與目標(biāo)市場(chǎng)認(rèn)證機(jī)構(gòu)合作的實(shí)驗(yàn)室（如 UL 目擊實(shí)驗(yàn)室），減少審核時(shí)間。
• 示例案例：某項(xiàng)目通過施耐德授權(quán)生產(chǎn)廠的模塊化密封設(shè)計(jì)Blokset，鹽霧 + 濕熱 + IP66 測(cè)試總耗時(shí)約 60 天，認(rèn)證周期合計(jì)約 3 個(gè)月。

如需具體時(shí)間規(guī)劃，建議直接聯(lián)系施耐德電氣或其授權(quán)盤廠（如：裕成電器 等），提供產(chǎn)品序列號(hào)及目標(biāo)市場(chǎng)要求濰坊安丘的Blokset廠家E-House電力預(yù)制艙，獲取定制化測(cè)試方案。