常見(jiàn)的有色金屬礦石檢測(cè)設(shè)備包括:
1. X射線熒光光譜儀:通過(guò)測(cè)量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜,確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀:利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件,對(duì)礦石樣品進(jìn)行離子化和分析,以測(cè)量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。
有色金屬礦石分析儀A-4000可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析,廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測(cè)和分析,還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。礦石分析儀INNOV-X ALPHA-4000包括銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測(cè)的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。
·使用了的和多用途的x射線資料模式:采用康普頓常態(tài)化校正方法:可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來(lái)進(jìn)行定量分析,而不需要進(jìn)行的校正。基本參數(shù):采用半定量分析方式,適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實(shí)驗(yàn)校正法:利用“校正曲線”進(jìn)行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份,很容易進(jìn)行校正。因此,Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當(dāng)前和未來(lái)的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過(guò)對(duì)比光譜進(jìn)行對(duì)比分析,顯示出分析結(jié)果,分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的情況。
·通過(guò)更新參數(shù)或更換模式,可以利用存儲(chǔ)的試驗(yàn)結(jié)果再次進(jìn)行新的試驗(yàn)。
·資料安全性:資料以二進(jìn)位格式存儲(chǔ)于設(shè)備中,以資料的完整性。
對(duì)于有色冶煉企業(yè)來(lái)說(shuō),原料成分的穩(wěn)定性至關(guān)重要,它會(huì)對(duì)幾乎所有工序的生產(chǎn)穩(wěn)定性產(chǎn)生影響,因此,在預(yù)均化堆場(chǎng)、原料磨配料控制等工藝中,礦石成分的分析是的,目前大多數(shù)生產(chǎn)企業(yè)采用人工取樣+實(shí)驗(yàn)室分析的方案,在取樣、制樣和分析過(guò)程中會(huì)耗費(fèi)大量的人力物力,而且會(huì)帶來(lái)分析時(shí)效滯后和人為誤差影響兩大難題,很難發(fā)揮調(diào)整生產(chǎn)的作用。
礦石成分在線檢測(cè)技術(shù)取消了人工取樣、制樣、化驗(yàn)等環(huán)節(jié),實(shí)時(shí)對(duì)礦石進(jìn)行分析并將結(jié)果發(fā)送至控制系統(tǒng),具有礦石成分代表性強(qiáng)、實(shí)時(shí)可靠、減少取樣人員、降低生產(chǎn)成本等特點(diǎn),可以及時(shí)調(diào)整配礦方案,提高生產(chǎn)效率。目前礦石成分在線檢測(cè)的主流技術(shù)有中子活化技術(shù)(Prompt Gamma-ray Neutron Activation Analysis,簡(jiǎn)稱PGNAA)和近紅外光譜分析技術(shù)(Near Infra-Red Technology,簡(jiǎn)稱NIR)。
近紅外光譜區(qū)域
由于不同的物質(zhì)含有不同的基團(tuán),不同的基團(tuán)有不同的能級(jí),不同的基團(tuán)或同一基團(tuán)在不同物理化學(xué)環(huán)境中對(duì)近紅外光的吸收波長(zhǎng)都有明顯差別,且吸收系數(shù)小,發(fā)熱少,因此近紅外光譜可作為獲取信息的一種有效的載體。近紅外光照射時(shí),頻率相同的光線和基團(tuán)將發(fā)生共振現(xiàn)象,光的能量通過(guò)分子偶極矩的變化傳遞給分子;而如果近紅外光的頻率和樣品的振動(dòng)頻率不相同,該頻率的紅外光就不會(huì)被吸收。因此,選用連續(xù)改變頻率的近紅外光照射某樣品時(shí),由于試樣對(duì)不同頻率近紅外光的選擇性吸收,通過(guò)試樣反射后的近紅外光線在某些波長(zhǎng)范圍內(nèi)會(huì)變?nèi)酰@樣紅外光線就攜帶樣品組分和結(jié)構(gòu)的信息。通過(guò)檢測(cè)器分析反射光線的光密度,就可以確定該組分的含量。