大規(guī)模集成電路測試儀器 > 數(shù)字電路測試系統(tǒng)學(xué)科領(lǐng)域:信息與系統(tǒng)科學(xué)相關(guān)工程與技術(shù)主要技術(shù)指標(biāo):無主要功能:用于器件建模平臺的0.03Hz到40MHz低頻1/f噪聲測量,支持FET、BJT、Diode、Resist" />
儀器名稱:
1/f噪聲測試系統(tǒng)
英文名稱:
所屬分類:
電子測量儀器 > 大規(guī)模集成電路測試儀器 > 數(shù)字電路測試系統(tǒng)
學(xué)科領(lǐng)域:
信息與系統(tǒng)科學(xué)相關(guān)工程與技術(shù)
主要技術(shù)指標(biāo):
無
主要功能:
用于器件建模平臺的0.03Hz到40MHz低頻1/f噪聲測量,支持FET、BJT、Diode、Resister以及電阻的測量