二手TR-5001E 運用更之零組件及軟體技術所開發(fā)之新一代機種。其主要特性在于測試速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開短路學習模式設定，滿足各種不同待測物之測試特性。對于高針點的產品或大批量之制程，無疑是一臺抵兩臺的選擇，無論在設備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。

選配: (寬) 500 mm x (長) 350 mm x (高) 100 mm . 模擬硬件 1、六線式量測 2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源 3、AC/DC電壓源, DC電流源量測 4、元件R/L/C量 . 選配硬件 。模擬測試 1、TestJet技術非向量式開路檢測，任意波形產生器(AWG) 。數(shù)字測試 1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅動/接收比設計 2、待測板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、邊界掃描, BGA Tree測試能力 5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄TR-5001E 選ICT 二手TR5001E

二手TR-5001E元件測試儀 性，成本低，適合選擇 美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路難以完整偵測的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術以因應。本公司在取得安捷倫公司的專利授權后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測率。電腦主機板、介面卡或傳真機、數(shù)據(jù)機的機板皆可得到滿意的測試效果。