?XYZ振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)的目的，在于實(shí)驗(yàn)中做一連串可控制的振動(dòng)模擬，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運(yùn)送或振動(dòng)環(huán)境因素的考驗(yàn)，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)及功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。據(jù)統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)顯示提升3%的設(shè)計(jì)水準(zhǔn)，將增加20%的回收及減少18%的各項(xiàng)不必要支出。振動(dòng)模擬依據(jù)不同的目的也有不同的方法，如共振搜尋、共振駐留、循環(huán)掃描、隨機(jī)振動(dòng)及應(yīng)力篩檢等

XYZ振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)的效應(yīng)：

??一、結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度;

??二、結(jié)合物的松脫;

??三、保護(hù)材料的磨損;

??四、零組件的破損;

??五、電子組件之接觸不良;

??六、電路短路及斷續(xù)不穩(wěn);

??七、各件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移;

??八、提早將不良件篩檢出;

??九、找尋零件、結(jié)構(gòu)、包裝與運(yùn)送過程間之共振關(guān)系，改良其共振因素。

??而振動(dòng)測(cè)試的程序，須評(píng)估訂定試驗(yàn)規(guī)格，夾具設(shè)計(jì)之真實(shí)性，測(cè)試過程中之功能檢查及*后試件之評(píng)估、檢討和建議

試驗(yàn)臺(tái)本產(chǎn)品性能指標(biāo)符合：
1、GB 5170.14-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：基本參數(shù)檢定方法振動(dòng) (正弦) 試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
2、GB 10593.1-3-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法：振動(dòng)(GBT 10593.1-1989)
3、GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：