半導(dǎo)體測試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測試和半導(dǎo)體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設(shè)備，并進(jìn)行信號(hào)傳輸?shù)暮诵淖饔茫瑢τ诎雽?dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

垂直探針可以對應(yīng)高密度信號(hào)觸點(diǎn)的待測半導(dǎo)體產(chǎn)品的細(xì)間距排列，針尖接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過針體本身的彈性變形來提供。懸臂探針為探針部提供適當(dāng)?shù)目v向位移，用于通過橫向懸臂接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品，以避免探針部對待測半導(dǎo)體產(chǎn)品施加過大的針壓。

通過合理的回收流程，鍍金探針廢料中的金屬可以得到提取和再利用，減少資源浪費(fèi)，降低環(huán)境污染。這對于實(shí)現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展具有重要意義。因此，應(yīng)該加強(qiáng)對鍍金探針廢料回收的研究和推廣，提高回收率，并推動(dòng)相關(guān)政策的制定和實(shí)施。