礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器。它利用光的特性來(lái)測(cè)量礦石樣品在不同波長(zhǎng)下的吸收、反射和透射情況，從而推斷出礦石的組成和特性。

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產(chǎn)品特點(diǎn)
1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析
2.可同時(shí)分析40種元素
3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類(lèi)樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過(guò)積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過(guò)簡(jiǎn)單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)
快速：能在短時(shí)間內(nèi)獲取礦石的成分信息，大大提高了勘探和分析效率。
無(wú)損檢測(cè)：不會(huì)對(duì)礦石樣品造成損害，有利于后續(xù)的深入研究和分析。
多元素檢測(cè)：可以同時(shí)對(duì)礦石中的多種元素進(jìn)行檢測(cè)，覆蓋范圍廣，為礦產(chǎn)勘探提供全面的元素分析數(shù)據(jù)。
操作簡(jiǎn)便：儀器的操作界面通常較為簡(jiǎn)潔，即使是非人員也能快速上手。

應(yīng)用領(lǐng)域
礦產(chǎn)勘探：幫助勘探人員在野外快速檢測(cè)和識(shí)別礦石樣品，確定礦石的類(lèi)型和品位，指導(dǎo)礦產(chǎn)資源的開(kāi)發(fā)和利用。
礦山開(kāi)發(fā)：在礦山開(kāi)采過(guò)程中，可用于快速確定礦石的礦質(zhì)、含量和礦石類(lèi)型，為礦石的選礦和處理流程提供指導(dǎo)。
環(huán)境監(jiān)測(cè)：用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)礦石尾砂等廢棄物的成分和污染情況，為環(huán)境保護(hù)和資源回收提供依據(jù)。
質(zhì)量控制：在礦石加工過(guò)程中，對(duì)原材料和成品進(jìn)行質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品符合要求。

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