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優(yōu)爾鴻信成都檢測實(shí)驗(yàn)室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備,可針對電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月26日
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500.00元優(yōu)爾鴻信檢測成都實(shí)驗(yàn)室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備,可針對電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月20日
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500.00元優(yōu)爾鴻信成都檢測實(shí)驗(yàn)室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備,可針對電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分析服務(wù)。 場..09月19日
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TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等)..09月28日
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新一代的MIRA場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了,i新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)(如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時(shí)保持著高的性價(jià)比。的設(shè)..09月28日
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美國賽默飛FEI場發(fā)射掃描電子顯微鏡 型號:Apreo Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用 功能最為豐富的高性能 SEM Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇06月24日
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500.00元成都第三方機(jī)構(gòu) 優(yōu)爾鴻信檢測實(shí)驗(yàn)室配有場發(fā)射掃描電鏡、鎢絲燈掃描電鏡、FIB聚焦離子束、工業(yè)CT、超聲波C-SAM等電子元件及半導(dǎo)體檢測設(shè)備,可針對電子元件,半導(dǎo)體部件進(jìn)行質(zhì)量檢測和失效分..09月27日
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1500.00元COXEM庫賽姆臺(tái)式掃描電子顯微鏡EM-30 Plus COXEM庫賽姆EM-30 Plus臺(tái)式掃描電子顯微鏡超高分辨率臺(tái)式(桌面式)掃描電鏡打破了傳統(tǒng)臺(tái)式掃描電鏡采用BSD探測器成像的局限性,利用創(chuàng)新的雙聚光..09月28日
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200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù): 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..10月08日
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掃描電鏡在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用,主要應(yīng)用于細(xì)胞或組織樣本表面超微結(jié)構(gòu)的觀察分析,例如細(xì)胞表面結(jié)構(gòu),氣管,腸道,皮膚、納米藥物、生物醫(yī)學(xué)材料、細(xì)菌、真菌等。掃描電鏡的焦深比透射..10月08日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..10月08日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..10月08日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..10月08日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..10月08日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..10月08日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..10月08日
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優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查(IMC Inspection) 2.錫須觀察(Tin Whisker Inspection) 3.元素分析(Element Analysis) 4.金屬顆粒觀察(Observation of me..10月08日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年,是一家全國性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè),主要..10月08日
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SEM+EDS分析: 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的: 微區(qū)成分分..10月08日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu),具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì),能及時(shí)有效的提供檢測服務(wù) 包含:環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..10月08日
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